互換性與測量技術基礎(第2版)

互換性與測量技術基礎(第2版)
定價:179
NT $ 156
  • 作者:張秀娟(主編)
  • 出版社:清華大學出版社
  • 出版日期:2018-05-01
  • 語言:簡體中文
  • ISBN10:7302502617
  • ISBN13:9787302502616
  • 裝訂:平裝 / 168頁 / 普通級 / 2-1
 

內容簡介

書中採用國家標準,結合應用實例,重點介紹了基本概念和標準的應用,較全面地介紹了機械測量技術幾何量的各種誤差檢測方法和原理。本書涵蓋了互換性與標準化、圓柱體結合尺寸精度互換性、形位公差與檢測、公差原則、表面粗糙度與檢測、技術測量基礎知識、漸開線圓柱齒輪的精度設計、尺寸鏈等內容。每章后附練習題,在各章中均有解題所需的公差表格,以方便教學和讀者自學。本書適用於高等院校機械類、機電類、材料類、儀器儀錶類等專業使用,也可供有關工程技術人員參考。





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