積體電路測試實務

積體電路測試實務
定價:280
NT $ 266
  • 作者:廖裕評陸瑞強
  • 出版社:全華圖書
  • 出版日期:2007-05-08
  • 語言:繁體中文
  • ISBN10:9572157744
  • ISBN13:9789572157749
  • 裝訂:平裝 / 216頁 / 12k菊 / 19 x 21 cm / 普通級 / 單色印刷 / 初版
 

內容簡介

  積體電路設計是近年來熱門話題,半導體產品廣範的被人使用,本書作者以基礎測試觀念將重點整理出來。本書第一章為了積體電路測試的簡介,介紹基本配備及觀念。第二章IC特性與規格介紹,介紹邏輯元件的電性。第三章DC參數測試,介紹高阻抗電流、開路/短路測試及故障排除。第四章功能測試。第五章資料分析,含晶片地圖、統計製程(SPC)。第六章測試經濟學,介紹成本、產能。附錄整理出詞彙並附有解釋。本書適合私立大學科大電子、電機、資工系「積體電路測試」課程。

本書特色

★1 . 介紹積體電路基本測試方法。
★2 . 設計實驗流程,幫助初學者快速了解實驗。
★3 . 介紹測試資料分析方法。
★4 . 配合教育部重點發展計畫內容。

 

目錄

第1章 積體電路測試簡介
第2章 IC特性與規格介紹
第3章 DC參數測試
第4章 功能測試
第5章 資料分析
第6章 測試經濟學
附  錄 詞彙解釋
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