特殊奈米微粒控制與防護技術探討 102藍H322

　　探討是否可結合氣膠微粒質量分析儀及微粒電移動度粒徑掃描分析儀快速測量奈米微粒之粒徑及質量濃度。計畫確認APM的質量測量準確度，建議採用”固定轉速(改變電壓)”的操作方法可更有效率地測量微粒質量，也以SMPS與APM測量不同形貌多徑分佈銀微粒的質量濃度分佈，並與重量法之MOUDI的測量結果做比對，初步認為可行但必須釐清並修正可能影響因素。